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走査型電子顕微鏡(SEM)用の断層中軸部小型定方位試料の作製法

A Sampling method of oriented small sample from fault cores for SEM observation

島田 耕史  ; 亀高 正男*; 中山 一彦 ; 瀬下 和芳 ; 田中 義浩; 林 俊夫*; 田中 遊雲; 下釜 耕太*; 岡崎 和彦*

Shimada, Koji; Kametaka, Masao*; Nakayama, Kazuhiko; Seshimo, Kazuyoshi; Tanaka, Yoshihiro; Hayashi, Toshio*; Tanaka, Yukumo; Shimogama, Kota*; Okazaki, Kazuhiko*

脆弱で細粒かつ少量の断層中軸部の試料から、できるだけ多くの微細構造観察機会を得ると共に、化学分析等に供せられる試料量を確保する観点から、微小な試料の走査型電子顕微鏡(SEM)の利用は有効と考えられる。その際に課題となるのは、脆弱な試料の定方位情報を保持させたまま、SEMの試料室へ入れる方法の確立であり、実用上可能とされ得る迅速な試料採取方法の確立である。本稿では、ステープラー(ホチキス)の針を、互いに直角な小平面を持っている事を活かした定方位用の枠として用い、特殊な薬品や高度な備品類の使用を抑え、野外での迅速な定方位試料採取、貴重な試料からの採取を可能とする、SEM観察用定方位試料作製手法の手順を紹介する。

Staples for a stapler can be used as a frame of a small oriented sample taken from fragile and scarce fault gouge. The fault gouge was slotted for staples of an insert. Staples are a group of about ten or less ones holding right-angled three small surfaces. Pre-oriented staples set the slot would remove then presented for the SEM observation. Only a knife, some glues and simple equipment are needed for the method in the field or laboratories.

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