高LETイオンビームによる出芽酵母の突然変異誘発に関する研究

Analysis of high LET ion-beam induced mutations in budding yeast

松尾 陽一郎*; 泉 佳伸*; 長谷 純宏; 坂本 綾子; 清水 喜久雄*

Matsuo, Yoichiro*; Izumi, Yoshinobu*; Hase, Yoshihiro; Sakamoto, Ayako; Shimizu, Kikuo*

高LETのイオンビームによる突然変異誘発の分子機構を明らかにするために、真核生物の出芽酵母をモデルとして研究を行ってきた。炭素イオンビームを照射した場合、LETの増加に伴って致死率およびURA3遺伝子の突然変異率が上昇し、かつヌクレオソーム構造のリンカーDNAにおいて局所的に突然変異が誘発された。我々は、突然変異が誘発される部位とヌクレオソーム構造との間に関係があるという仮説をたて、これを検証するために野生株と異なるヌクレオソーム上の位置にURA3遺伝子を持つ出芽酵母細胞を作成し、炭素イオンビームで誘発されるURA3遺伝子の突然変異誘発スペクトルを分析した。その結果、URA3のヌクレオソーム構造が異なる出芽酵母細胞では、野生株とは異なる位置に突然変異が生じた。このことから、突然変異の誘発されやすさがヌクレオソーム構造に依存する可能性が示唆された。

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