民生電子部品の宇宙環境における耐放射線性の研究

Study on radiation hardness of COTS in space environments

前田 高広*; 明石 健二*; 垣見 征孝*; 小野田 忍; 大島 武; 牧野 高紘

Maeda, Takahiro*; Akashi, Kenji*; Kakimi, Yukitaka*; Onoda, Shinobu; Oshima, Takeshi; Makino, Takahiro

民生電子部品(COTS)の宇宙環境における動作状況や劣化状況を把握するため、サイクロトロンからの高エネルギー重粒子線照射試験を行った。マイクロコントロールユニット(MCU), 電界効果トランジスタ(MOSFET), アナログ・デジタル(AD)コンバータ, デジタル・アナログ(DA)コンバータ, シリアル通信ドライバについて照射試験を行った。MCUのレジスタにおけるシングルイベントアップセット(SEU)以外は、発生確率が想定運用期間に対して小さいことが分かり、小型衛星で使用可能との結論を得た。MCUについては、リセット回路や冗長系等のシングルイベント対策を講ずる必要があるということも明らかとなった。

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