検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

Evaluation of DNA damage induced by Auger electrons from $$^{137}$$Cs

$$^{137}$$Csからのオージェ電子によるDNA損傷の評価

渡辺 立子; 服部 佑哉; 甲斐 健師

Watanabe, Ritsuko; Hattori, Yuya; Kai, Takeshi

本研究では、$$^{137}$$Csによる内部照射の担い手となるオージェ電子や内部転換電子等の低エネルギー電子のエネルギースペクトルや電子の放出位置の違いが、DNAレベルの微小な標的における線量分布とDNA損傷に与える影響を明らかにするために、電子線のトラックの微視的なシミュレーションに基づいた、線量分布とDNA損傷スペクトル(量や質)の推定を行った。方法としては、細胞集団モデルを標的系として、微視的なトラックシミュレーションを行い、次に、DNA損傷生成モデルに基づいた損傷スペクトルを計算した。計算結果を解析したところ、オージェ電子線等によるDNA損傷のスペクトルには、外部照射($$gamma$$線照射)の場合と比べて大きな差が生じないことが示され、内部照射は外部照射と比べてDNA損傷が起きやすいということはないという結果が得られた。

To understand the effect of internal exposure of $$^{137}$$Cs, we focus on estimation of microscopic energy deposition pattern and DNA damage induced by directly emitted electrons (beta-rays, internal conversion electrons, Auger electrons) from $$^{137}$$Cs. Monte Carlo track simulation method was used to calculate the microscopic energy deposition pattern. To simulate the energy deposition by directly emitted electrons, we considered the multiple ejections of electrons after internal conversion. Induction process of DNA strand breaks and base lesions was modeled and simulated using Monte Carlo methods for cell mimetic condition. The yield and spatial distribution of simple and complex DNA damage were calculated for the cases of $$gamma$$-rays and electrons from $$^{137}$$Cs. The simulation showed that significant difference of DNA damage spectrum was not caused by the difference between secondary electron spectrum by $$gamma$$-rays and directly ejected electron spectrum. The result support that the existing evaluation that internal exposure and external exposure are almost equivalent.

Access

:

- Accesses

InCites™

:

パーセンタイル:76.09

分野:Biology

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.