背面反射TOF型分光器DNA(J-PARC)における広帯域エネルギースペクトル測定のための同時多重入射バンド測定法の開発

Development of simultaneous multiple incident band measurement method for broadband energy spectrum measurement on the Si crystal analyzer back scattering TOF spectrometer DNA at J-PARC

柴田 薫  ; 高橋 伸明*; 川北 至信  ; 松浦 直人*; 富永 大輝*; 山田 武*; 中島 健次  ; 小林 誠*; 稲村 泰弘  

Shibata, Kaoru; Takahashi, Nobuaki*; Kawakita, Yukinobu; Matsuura, Masato*; Tominaga, Taiki*; Yamada, Takeshi*; Nakajima, Kenji; Kobayashi, Makoto*; Inamura, Yasuhiro

J-PARCセンター、物質・生命科学実験施設に設置されeVの高エネルギー分解能を実現したSi結晶アナライザー背面反射TOF型分光器DNAにおける広帯域エネルギースペクトル測定のための、パルス整形チョッパーの複数スリットを利用した同時多重入射バンドを用いる測定方法の開発を行った。コミッショニング測定および共用実験での適用例を交えて報告予定である。

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