照射下における過渡的損傷の解明のためのAMOC測定装置の開発

Development of AMOC system for measuring transient defects under irradiation

上田 大介*; 小西 涼香*; 南川 英輝*; 平出 哲也  ; 土田 秀次*

Ueda, Daisuke*; Konishi, Suzuka*; Minagawa, Hideaki*; Hirade, Tetsuya; Tsuchida, Hidetsugu*

イオンビームなどの照射下における損傷状態は過渡的で不安定である。この過渡的損傷状態の解明は、損傷の生成から安定化に至る過程を理解する上で重要である。過渡的な損傷により生成する活性種を、三重項ポジトロニウム(o-Ps)をプローブとして調べるために-同時計測によるAge-MOmentum Correlation(AMOC)測定装置の開発を行っている。AMOC測定で得られる"陽電子の消滅時刻"と"消滅時の電子・陽電子対の運動量"の相関から、o-Psの消滅過程を調べることが可能である。デジタル手法により新しく構築しているAMOC装置について報告する。

Damaged conditions under irradiation such as ion beams irradiation are transient and unstable. Understanding of this transient damage state is important to clarify the process from damage generation to stabilization. We are developing Age-MOmentum Correlation (AMOC) measurement system by - coincident measurement to investigate the triplet positronium (o-Ps) reactions as a probe of reactive species. From the correlation between "positron annihilation time" and "momentum of electron / positron at pair annihilation" obtained by AMOC measurement, it is possible to investigate the process of o-Ps reactions. We report on AMOC measurement system newly constructed by digital method.