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放射性廃棄物の減容化に向けたガラス固化技術の基盤研究,59; リン添加ホウケイ酸ガラスの作製及びB, NaのK吸収端XAFS測定

Basic research programs of vitrification technology for waste volume reduction, 59; Preparation of borosilicate glass samples including phosphorus and K-edge XAFS measurement of boron and sodium in glass samples

永井 崇之  ; 小林 秀和 ; 岡本 芳浩  ; 山中 恵介*; 太田 俊明*

Nagai, Takayuki; Kobayashi, Hidekazu; Okamoto, Yoshihiro; Yamanaka, Keisuke*; Ota, Toshiaki*

Si/B比やP$$_{2}$$O$$_{5}$$濃度を変えて原料ガラスと模擬廃棄物ガラスを作製し、B及びNa周辺の局所構造を軟X線領域のXAFS測定で評価した。その結果、P$$_{2}$$O$$_{5}$$添加によりB-O配位構造の4配位が増加すること等を確認した。

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