Fundamental study for elemental identification method by X-ray absorption imaging using a secondary target

二次ターゲットを用いたX線吸収イメージングによる元素識別法の基礎的検討

中江 理紀*; 松山 嗣史*; 村上 昌史  ; 吉田 幸彦; 町田 昌彦  ; 植田 昭彦; 佐々木 紀樹 ; 辻 幸一*

Nakae, Masanori*; Matsuyama, Tsugufumi*; Murakami, Masashi; Yoshida, Yukihiko; Machida, Masahiko; Ueda, Akihiko; Sasaki, Toshiki; Tsuji, Koichi*

X線吸収イメージングは試料にX線を照射し、透過したX線をカメラで検出するイメージング法である。これは非破壊かつ迅速な方法であるが、X線カメラは一般的にエネルギー分解能を有しておらず、元素の識別ができない。近年、シンクロトロン放射光を用いて、目的元素の吸収端周辺のエネルギーのX線でイメージングを行い、画像の差分を解析することで元素分布をイメージングする方法が報告されているが、実験室でX線のエネルギーを変化させることは難しい。本研究では、二次ターゲットとX線フィルターを用いることにより、実験室においても目的元素のみを可視化する方法を検討した。

X-ray absorption imaging is a technique in which samples are irradiated with X-rays and the transmitted X-rays are detected by an X-ray camera. Although this method is non-destructive and fast, X-ray cameras generally do not have energy resolution and cannot identify elements. Recently, an X-ray imaging method has been reported to use synchrotron radiation to image the elemental distribution using X-rays with energy around the absorption edge, and analyze the difference between the images. However, it is difficult to change the energy of X-rays in a laboratory. In this study, we studied the method for visualization of only the target element even in the laboratory by using a secondary target and an X-ray filter.