ホイスラー合金CoMnSi薄膜におけるスピン偏極電子構造の温度依存性の観測

Observation of temperature dependence of spin-polarized electronic structure in CoMnSi Heusler alloy films

角田 一樹   ; 鹿子木 将明*; 桜庭 裕弥*; 増田 啓介*; 河野 嵩*; 後藤 一希*; 宮本 幸治*; 三浦 良雄*; 宝野 和博*; 奥田 太一*; 木村 昭夫*

Sumida, Kazuki; Kakoki, Masaaki*; Sakuraba, Yuya*; Masuda, Keisuke*; Kono, Takashi*; Goto, Kazuki*; Miyamoto, Koji*; Miura, Yoshio*; Hono, Kazuhiro*; Okuda, Taichi*; Kimura, Akio*

CoMnSiは少数スピン状態にギャップが開いており、多数スピンのみが伝導に寄与するハーフメタル強磁性体であることが理論的に予測されている。実際、CoMnSiを用いたトンネル磁気抵抗素子では2000%もの巨大な出力が報告されている。しかし、巨大磁気抵抗比は低温でのみ観測されており、室温では出力が300%程度に低下することが問題となっている。室温における性能低下の要因は、電子間相互作用に起因した多体効果や熱励起マグノンによる影響などいくつか理論的モデルが提唱されているが、低温から室温までのスピン偏極率を調べる実験手法が限られることから、有限温度におけるスピン偏極率低下のメカニズムは未解明のままである。本研究では、CoMnSi薄膜についてスピン・角度分解光電子分光を行い、バンド分散およびスピン偏極率の温度変化を詳細に追跡した。フェルミ準位近傍ではハーフメタル性を担うバルクバンドと、スピン偏極した表面バンドが混在していることが明らかとなった。また、スピン偏極率は温度の上昇に伴って低下しており、マグノンの熱励起を記述するブロッホの則によって現象をよく説明できることが明らかになった。

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