Fragmentation and charge-neutralization pathways depending on molecular orientation at surfaces

表面分子配向に依存した分解と電荷中性化過程

関口 哲弘  ; 関口 広美*; 今村 元泰*; 松林 信行*; 島田 広道*; 馬場 祐治  

Sekiguchi, Tetsuhiro; Sekiguchi, Hiromi*; Imamura, Motoyasu*; Matsubayashi, Nobuyuki*; Shimada, Hiromichi*; Baba, Yuji

X線が固体に照射されると、(電子励起により)表面層から分解イオンが放出される。この現象は「電子励起に起因する脱離現象」と呼ばれ、熱的に起こる蒸発や剥離現象と区別され、広く研究されている。最終的に脱離する分解生成物は、おもに(1)表面最上層分子の直接的な分解、(2)固体内部からの二次電子による衝突励起など一連の複雑な過程の結果として生じる。さらに周囲分子や基板からの脱励起の影響も顕著に受ける。本研究においては表面での分子構造や結合方向が分解及び脱離過程に密接にかかわっていると考え、放射光の直線偏光を利用して、分子(中のある結合)の配向方向を規定して(X線)電子励起する実験を行った。この実験を行うため超高真空容器内で回転することができる飛行時間質量分析を備えた装置を開発した。本報告では凝集ギ酸(HCOOH)分子の内殻電子励起による分解反応について報告する。

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