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中野 智仁*; 阿部 定好
原子力eye, 56(2), p.72 - 76, 2010/02
本件は、平成21年度技術士第一次試験専門科目(原子力・放射線部門)についての概要、及びエネルギー分野に関する解説である。
中野 智仁*; 水谷 章*; 阿部 定好; 富田 和雄*; 半田 博之*
原子力eye, 56(1), p.63 - 76, 2010/01
2008年8月2日に、試験方法が改正されて3回目となる原子力・放射線部門の技術士第二次試験が実施された。本稿では選択科目のうち「原子炉システムの運転及び保守」、及び「放射線利用」の設問とその解答にあたってのポイントを解説する。
中野 元善; 乙部 智仁; 板倉 隆二
no journal, ,
高強度UVフェムト秒レーザー(398nm, 80fs)を用いて、Xe及びKrを標的とした角度分解光電子分光を行った。最外殻電子が電離した1価イオン電子基底状態の2つのスピン軌道準位J=3/2と1/2の生成比及び光電子角度分布に着目し、レーザー強度依存性を明らかにした。Xeの場合、レーザー強度を9から26TW/cm
へ増やすと、2準位の5光子イオン化生成比[J=3/2]/[J=1/2]は、0.65から1.25へ増加した。Krの場合、5光子イオン化生成比はほぼ一定であるものの、光電子角度分布は、レーザー強度によって変化することが観測された。第一原理計算を行い、実験結果と比較して議論する。
中野 元善; 乙部 智仁; 板倉 隆二
no journal, ,
高強度紫外フェムト秒レーザー(398nm, 50fs)を用いてKrの光電子イメージング分光を行った。レーザー強度を7-33
W/cmの範囲内において変化させ、5光子イオン化過程における1価の電子基底状態のスピン軌道分裂2準位(
状態と
状態)の分岐比及び光電子角度分布に着目し、それらのレーザー強度依存性を明らかにした。20W/cm以下の強度領域では分岐比が一定であるが、それ以上の強度領域では状態の分岐比がレーザー強度の増加とともに増加した。また、2つの準位の光電子角度分布はそれぞれ異なる強度依存性を示した。相対論を考慮した時間依存密度汎関数法を用いた計算を行い、実験結果と比較して議論する。
中野 元善; 乙部 智仁; 板倉 隆二
no journal, ,
高強度紫外フェムト秒レーザー(398nm、直線偏光)を用いてXe及びKrの光電子画像分光を行った。5光子イオン化過程における1価イオン電子基底状態のスピン軌道分裂2準位(P
およびP
)間の生成分岐比及び光電子角度分布に着目し、それらのレーザー強度依存性を明らかにした。Xeは7から33TW/cm、Krは8から38TW/cmの範囲にて測定した。生成分岐比に関しては、Xe, Krともレーザー強度の増加とともにエネルギー的に下の準位であるP状態への分岐比が増大することが観測された。一方、光電子角度分布については、Xeの場合、2準位とも強度依存が観測されなかった。それに対し、Krの場合では、P状態生成では偏光方向に直交する成分がレーザー強度の増加とともに減少し、P状態生成では増加するという、終状態ごとに異なる強度依存性が観測された。
中野 元善*; 乙部 智仁; 板倉 隆二
no journal, ,
紫外レーザー場中Kr原子の多光子イオン化について光電子運動量画像計測を行った。レーザー強度が38TW/cm
まで増加したとき、光電子角度分布に着目すると、P準位への5光子イオン化に帰属されるエネルギーの光電子は、偏光方向に対し垂直方向放出する成分が増強され、特異的な角度分布を示すことが明らかとなった。
