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報告書

金属組織観察用試料調整方法マニュアル

上野 文義; 小林 十思美; 伊藤 卓志; 長谷部 慎一; 菅谷 全*; 大久保 和行*; 鴨川 浩一*

PNC-TN9520 92-002, 54 Pages, 1992/03

PNC-TN9520-92-002.pdf:5.13MB

本報告書は、金属組織学的解析技術の維持・向上を目的として、材料開発室材料物性解析グループにおいて、これまで蓄積してきた金属組織観察用の試料調整技術をマニュアルとしてまとめたものである。このマニュアルでは、対象材料として、代表的鋼種であるSUS304鋼、SUS316鋼及びMOD、9CR-MO鋼を選んだ。調製方法としては、光学顕微鏡および走査型電子顕微鏡(SEM)での観察に用いるための樹脂埋め・研磨・エッチング方法、および透過型電子顕微鏡(TEM)での観察に用いるためのレプリカ及び薄膜試料の調製方法、について記載した。また、当グループにて実際行った試料調製の条件の例や、それによって得られた組織写真の例を記載した。これらの方法は、金属組織学的解析の分野では一般的に用いられているものがほとんどであるが、当グループにおいて新たに考案した調製方法も含まれている。このマニュアルが、今後の新しい材料や新しい材料評価技術の開発の対応するための基礎となることを望む。

論文

A Thermal cycling durability test of tungsten copper duplex structures for use as a divertor plate

関 昌弘; 小川 益郎; 湊 章男; 深谷 清; 東稔 達三; 三木 信晴

Nucl.Eng.Des./Fusion, 5, p.205 - 213, 1987/00

本研究は、現在原研で設計を進めている核融合実験炉のダイバータ板の一例として提案されているタングステン-銅(W-Cu)接合構造の熱疲労に対する健全性を調べたものである。すなわち、タングステンと銅をロー付けした接合試験片を製作し、アルゴンプラズマジェットを用いてタングステン表面に周期的に熱負荷をかけ、試験前後に走査型電子顕微鏡による微細構造の検査とヌープ硬さの測定を行った。ロー付け以外にも直接鋳込み方式によるW-Cu接合材を製作し、同様の試験を行った。試験の結果、いずれの試験片も破断することはなく、タングステンと銅のロー付け、および直接鋳込みによる接合方式が有効であり、W-Cu接合構造は熱疲労に対して十分健全であることがわかった。

論文

ダイバータ板用タングステン-銅接合構造の熱疲労に対する健全性試験

小川 益郎; 関 昌弘; 湊 章男; 深谷 清; 東稔 達三

日本原子力学会誌, 28(11), p.1038 - 1044, 1986/11

 パーセンタイル:100(Nuclear Science & Technology)

本研究は、現在原研で設計を進めている核融合実験炉のダイバータ板の一例として提案されているタングステン-銅(W-Cu)接合構造の熱疲労に対する健全性を調べたものである。すなわち、タングステンと銅をロー付けした接合試験片を製作し、アルゴンプラズマジェットを用いてタングステン表面に周期的に熱負荷をかけ、試験前後に走査型電子顕微鏡による微細構造の検査とヌープ硬さの測定を行った。試験の結果、いずれの試験片も破断することはなく、タングステンと銅のロー付けによる接合方法が有効であり、W-Cu接合構造は熱疲労に対して十分健全であることがわかった。

報告書

NTAフイルムの抽出線分要素の合成法

熊沢 蕃

JAERI-M 8783, 38 Pages, 1980/03

JAERI-M-8783.pdf:1.68MB

NTAフイルムの自動測定法として、多値レベルのデジタル画像から抽出した飛跡線分要素の合成処理法を示した。この方法の特徴は、飛跡の向きや断点に依存せず、飛跡を飛跡線分要素の集まりとして検出するように、飛跡方向との類似性や線分要素間の連結性を調べ、飛跡に沿った抽出線分要素を次々と連結していくことにある。大きなデジタル画像では、小画像ごとの合成処理と小画像間の結合処理を行って、各飛跡の全長にわたる線分要素の集まりを求める。NTAフイルムの顕微鏡写真から得た、濃度値127の364$$times$$323画素のデジタル画像を、8個の小画像に分割して本方法を通用した結果、どの方向の飛跡も抽出線分要素から正しく合成できることが知られた。

報告書

NTAフィルムの飛跡線分要素の抽出法

熊沢 蕃

JAERI-M 8085, 24 Pages, 1979/02

JAERI-M-8085.pdf:1.06MB

NTAフイルムの測定を自動化する一環として、濃淡レベルのあるデジタル画像から飛跡の線分要素を抽出する方法を示した。この方法の特徴は背景部分の画素の濃淡レベルが移動しても、飛跡の細線要素を抽出できるように、各画素でその周辺の画素と比較しながら細い線分要素があるか否かを判定していくことにある。飛跡のある顕微鏡写真を7ビット/画素で364$$times$$323画素のデジタル画像にした後、ここで述べる方法でこの画像データを処理した結果、この方法は飛跡画素のみを主として抽出することが知られた。また、この方法は暗い背景にある飛跡でも明るい背景にある飛跡でも、いずれの飛跡画素をも抽出することが知られた。

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