Analyses of hydrogen isotope distributions in the outer target tile used in the W-shaped divertor of JT-60U

JT-60U外側ダイバータ領域のDD放電タイル中の水素同位体挙動

大矢 恭久*; 森本 泰臣*; 小柳津 誠*; 廣畑 優子*; 柳生 純一; 三代 康彦; 後藤 純孝*; 杉山 一慶*; 奥野 健二*; 宮 直之; 日野 友明*; 田中 知*; 田辺 哲朗*

Oya, Yasuhisa*; Morimoto, Yasutomi*; Oyaizu, Makoto*; Hirohata, Yuko*; Yagyu, Junichi; Miyo, Yasuhiko; Goto, Yoshitaka*; Sugiyama, Kazuyoshi*; Okuno, Kenji*; Miya, Naoyuki; Hino, Tomoaki*; Tanaka, Satoru*; Tanabe, Tetsuo*

JT-60Uにおいて両側排気時期に使用された外側ダイバータタイル中の水素同位体挙動をSIMS,XPS,SEMを用いて調べた。その結果、タイル中央部分では水素同位体濃度が低 く、タイル両側で高いことがわかった。下側排気ポート近くで水素同位体濃度が最も 高く、この部分に多く観察される再堆積層中に存在している可能性が示唆された。タイル中央部では再堆積層に替わってエロージョンが支配的である。放電時にタイル表面温度が上昇し、水素同位体の多くが除去されたと推察できる。一方、上部ではタイル中央部ほどストライクポイントの頻度が少ないことから、表面に重水素放電後に実施した水素放電による水素が滞留している。また、タイル内部のカーボンファイバー上に再堆積層が存在しており、表面はエロージョンが支配的であるが、内部の堆積膜中には水素同位体が存在している可能性が示唆された。これらの結果より、外側ダイバータ部では主にエロージョンが支配的であるが、ストライクポイントの頻度が少ない場所において再堆積層が存在し、その内部に水素同位体が存在していること,タイル表面における水素同位体挙動はタイルの温度,損耗の効果,ストライクポイントの位置・頻度に大きく影響を受けること等が明らかとなった。

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