奥村 進; 石堀 郁夫; 福田 光宏; 宮脇 信正; 倉島 俊; 上松 敬; 奈良 孝幸; 吉田 健一; 中村 義輝; 荒川 和夫
Okumura, Susumu; Ishibori, Ikuo; Fukuda, Mitsuhiro; Miyawaki, Nobumasa; Kurashima, Satoshi; Agematsu, Takashi; Nara, Takayuki; Yoshida, Kenichi; Nakamura, Yoshiteru; Arakawa, Kazuo
原研AVFサイクロトロンでは、集束方式による直径1
mのマイクロビーム形成を実現するために必要な、集束レンズでの色収差抑制のため、フラットトップ加速によるビームエネルギー幅縮小化技術の開発を進めている。既設分析電磁石を利用して、ビームエネルギー幅計測を行うために、マイクロスリットを用いたビームエネルギー幅計測システムの開発を行った。計測システム及び開発した計測用機器について述べる。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
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巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.518 - 520 |
発行年月 |
: | 2003/00 |
発表会議名 |
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開催年月 |
: | 2003/11 |
開催都市 |
: | つくば |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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