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テルル、セレン中の不純物の放射化分析

The determination of impurities in tellurium and selenium by activation analysis

矢島 聖使; 亀本 雄一郎; 柴 是行; 小野田 儀弘*

not registered; not registered; Shiba, Koreyuki; not registered

テルル中のセレン、銅、ヒ素、アンチモン、およびセレン中のテルル、銅、ヒ素、アンチモンを中性子放射化分析により定量する方法を検討、ほぼ満足のいく方法を得た。まず中性子シャヘイの影響をしらべ、テルル、セレンともに約2gまでは認められなかった。テルル、セレン約1gを標準試料とともにJRR-1中で2時間または3日間中性子照射をおこなった。照射したのち、放射化学的に純な形でセレン、テルル、銅、ヒ素、アンチモンをとり出し、$$gamma$$線スペクトロメトリーにより定量した。テルル、セレンの試料として帯域精製法により精製したものを用い不純物の挙動を調べた。

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