架橋テフロン電解質膜のプロトン伝導特性における架橋構造の影響

Influence of crosslinking structures on proton conduction properties of crosslinked-teflon electrolyte membranes

澤田 真一; 前野 武史*; 八巻 徹也; 浅野 雅春; 寺井 隆幸*; 吉田 勝

Sawada, Shinichi; Maeno, Takeshi*; Yamaki, Tetsuya; Asano, Masaharu; Terai, Takayuki*; Yoshida, Masaru

本研究では、異なる架橋密度を持つ架橋テフロン電解質膜を調製し、架橋構造がプロトン伝導特性に及ぼす影響を調べた。イオン交換容量が同程度の場合では、テフロン基材の架橋密度が高いほど、伝導度は大きくなることがわかった。このような伝導特性を説明するために、含水による膜の寸法変化を考慮したうえで、単位体積あたりのプロトンの個数、すなわちプロトン濃度nを求めたところ、nは架橋密度とともに上昇するという、伝導度と同様の傾向を示した。以上の結果から、高密度の架橋構造は電解質膜の寸法安定性を高め、これによりnが大きくなったことが伝導度の向上に寄与したと考えられる。

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