Comparison of boronized wall in LHD and JT-60U

LHDとJT-60Uにおけるボロン化壁に関する比較

芦川 直子*; 木津 要; 柳生 純一; 中畑 俊彦*; 信太 祐二; 西村 清彦*; 吉河 朗*; 石本 祐樹*; 大矢 恭久*; 奥野 健二*; 宮 直之; 日野 友明*; 増崎 貴*; 相良 明男*; 大藪 修義*; LHD実験グループ*

Ashikawa, Naoko*; Kizu, Kaname; Yagyu, Junichi; Nakahata, Toshihiko*; Nobuta, Yuji; Nishimura, Kiyohiko*; Yoshikawa, Akira*; Ishimoto, Yuki*; Oya, Yasuhisa*; Okuno, Kenji*; Miya, Naoyuki; Hino, Tomoaki*; Masuzaki, Suguru*; Sagara, Akio*; Oyabu, Nobuyoshi*; LHD Experimental Group*

LHD真空容器内で主放電6081ショット,ボロニゼイション3回に曝された。ステンレス(SS316)サンプル、及び同様にJT-60U真空容器ポート内で主放電1896ショット,ボロニゼイション2回に曝された。SS316サンプル表面の元素分布状態をX線光電子分光装置(XPS)を用いて分析し、LHDとJT-60Uの結果を比較した。(1)LHDでは最表面において炭素が20%,酸素が45%であり、それ以降基板界面に至るまで80%のボロン膜が保持されている。JT-60Uでは最表面において炭素が60%であり、その後55%程度のボロン膜が保持されている。このようにLHDと比較するとJT-60Uでは壁材による堆積層が顕著である。(2)JT-60Uでのボロン膜上の堆積層はトーラス方向に非均一であり、C1s及びO1sのXPSスペクトルピークシフトの結果においても場所により異なる傾向を示す。これはトーラス方向の酸素捕捉能力が非均一であることを示唆している。(3)ボロン膜厚は、LHDではグロー電極の位置に依存するが、JT-60Uではそのような傾向は見受けられなかった。理由の一つとして炭素による堆積層がトーラス方向に非均一であることが考えられる。(4)ボロン膜の厚みは実験サイクル中十分に保持されているため、ボロン化壁による酸素軽減効果はおもにボロン膜の最表面の特性に起因すると考えられる。

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