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高圧下における液体AgIのX線異常散乱

Anomalous X-ray scattering of liquid AgI under pressure

服部 高典; 友政 雅俊*; 桧垣 卓也*; 辻 和彦*

Hattori, Takanori; Tomomasa, Masatoshi*; Higaki, Takuya*; Tsuji, Kazuhiko*

これまで、二元系液体の部分構造は、その重要性にもかかわらず、実験的困難から常圧下でさえよくわかっていない。液体中の化学元素の違いを区別した構造、すなわち化学的短距離秩序は、Disorder物質中の構造及びその安定性の起源を考えるうえで重要である。また、圧力を加えた場合の化学結合の変化は、その化学的短距離秩序に如実に反映されるため、それを調べることで、液体中の電子状態の変化を知ることができる。このような動機でわれわれは、(1)高圧下における液体のX線異常散乱法の開発及び(2)共有結合とイオン結合が共存したイオン性液体である液体AgIへの応用を行った。測定は、これまで液体AgIにおいて構造が大きく変わると知られている2-3GPaの高圧側(4.6GPa)及び低圧側(0.5GPa)で行った。異常散乱項の比較的小さい28keVのデータは、0.5GPa及び4.6GPaのデータともこれまでわかっている液体AgIの構造因子とconsistentである。また、入射線エネルギーをそれぞれの吸収短近傍に近づけるのに伴い、連続的に強度Profileが変化するのがわかる。これは、Ag-Ag, Ag-I, I-Iの部分構造が異なることに起因するもので、X線異常散乱法による強度測定がうまくいっていることを示している。高圧下において液体の異常散乱実験を行った例はなく、著者の知る限り、世界初のデータである。

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