Investigation of electronic structure in UCuSi using neutron and synchrotron radiation experiments

中性子と放射光を用いたUCuSiの電子状態の研究

本多史憲; 目時直人 ; 大隅寛幸*; 筒井智嗣*; 石井賢司; 松田達磨; 芳賀芳範 ; 大貫惇睦

Honda, Fuminori; Metoki, Naoto; Osumi, Hiroyuki*; Tsutsui, Satoshi*; Ishii, Kenji; Matsuda, Tatsuma; Haga, Yoshinori; Onuki, Yoshichika

UCu $_{2}$ Si $_{2}$ の電子構造を中性子散乱実験,放射光を用いたX線回折実験によって調べた。まず中性子回折により、この物質が長周期スピン密度波状態(SDW)を示すことを明らかにした。SDWは+スピンと-スピンを持つ電子密度の変調であり、電荷密度波(CDW)を伴うと考えられる。そこで、BL46XU/SPring-8においてX線回折実験を行い、101Kで電荷起源による2次の衛星反射を確認し、この物質がSDW/CDW共存状態にあることを突き止めた。これはウランの持つ5f電子の遍歴性が顕著に出た例であり、これまで局在的であると考えられていたU-122系化合物の電子状態の研究に一石を投じるものである。

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使用言語	:	English
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発表会議名	:	8th Prague Colloquium on f-Electron Systems (PCFES-8)
開催年月	:	2006/09
開催都市	:	Prague
開催国	:	Czech Republic
キーワード	:	no keyword

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使用施設	:	JRR-3M(研究炉3)
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