irradiated with high-energy ions by means of X-ray diffraction measurementにおけるX線回析法を利用した構造変化の研究石川 法人 
; 知見 康弘; 道上 修*; 太田 靖之*; 大原 宏太; Lang, M.*; Neumann, R.*
Ishikawa, Norito; Chimi, Yasuhiro; Michikami, Osamu*; Ota, Yasuyuki*; Ohara, Kota; Lang, M.*; Neumann, R.*
150MeV
2.7GeVまでの高エネルギーイオンをセリウム酸化物に照射し、結晶構造変化に対応したX線回折ピークの変化を観測した。結晶構造の異なるナノメートルサイズのイオントラック形成を反映した新しいX線回折ピークが照射によって出現することがわかった。X線回折ピークの詳細な解析の結果、イオントラック内の結晶構造は乱れているが結晶構造を保っていること,酸素が非常に欠損している状態であることがわかった。
Cerium dioxide films are irradiated with high-energy heavy ions with the energy range of 150 MeV to 2.7 GeV, and X-ray diffraction profile is examined. As a result, the data can be explained by creation of nanometer-size ion track with disordered lattice structure, and the ion track is oxygen deficient.
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 266 |
号 |
: | 12-13 |
ページ数 |
: | p.3033 - 3036 |
発行年月 |
: | 2008/06 |
発表会議名 |
: | 14th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI-14) |
開催年月 |
: | 2007/08 |
開催都市 |
: | Caen |
開催国 |
: | France |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
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使用施設 |
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論文解説記事 |
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受委託・共同研究相手機関 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：92.4 分野：Instruments & Instrumentation |
Altmetrics |
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