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Clarification of the properties and accumulation effects of ion tracks in CeO$$_{2}$$

CeO$$_{2}$$におけるイオントラックの特性とその蓄積効果の解明

園田 健*; 木下 幹康*; 石川 法人; 左高 正雄; 知見 康弘; 大久保 成彰; 岩瀬 彰宏*; 安永 和史*

Sonoda, Takeshi*; Kinoshita, Motoyasu*; Ishikawa, Norito; Sataka, Masao; Chimi, Yasuhiro; Okubo, Nariaki; Iwase, Akihiro*; Yasunaga, Kazufumi*

高エネルギーイオン照射したCeO$$_{2}$$のイオントラック構造とその蓄積の効果を電子顕微鏡観察の手段を使って調べた。特に、FIB(集束イオンビーム:Focused Ion Beam)を用いることによって、照射方向の微細組織の深さ依存性について調べることができた。その結果、電子系に伝達されるエネルギー密度が、閾値16keV/nm以上のときにのみイオントラックが観測されることがわかった。また、高照射量領域でのイオントラックの蓄積が、照射表面の面粗度の上昇に寄与していることがわかった。

High-energy particle irradiation effects of CeO$$_{2}$$ is investigated using electron microscopy. It is found that ion track is formed only when the electronic energy transfer exceeds 16 keV/nm.

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分野:Instruments & Instrumentation

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