におけるイオントラックの特性とその蓄積効果の解明園田 健*; 木下 幹康*; 石川 法人 
; 左高 正雄; 知見 康弘; 大久保 成彰 ; 岩瀬 彰宏*; 安永 和史*
Sonoda, Takeshi*; Kinoshita, Motoyasu*; Ishikawa, Norito; Sataka, Masao; Chimi, Yasuhiro; Okubo, Nariaki; Iwase, Akihiro*; Yasunaga, Kazufumi*
高エネルギーイオン照射したCeOのイオントラック構造とその蓄積の効果を電子顕微鏡観察の手段を使って調べた。特に、FIB(集束イオンビーム:Focused Ion Beam)を用いることによって、照射方向の微細組織の深さ依存性について調べることができた。その結果、電子系に伝達されるエネルギー密度が、閾値16keV/nm以上のときにのみイオントラックが観測されることがわかった。また、高照射量領域でのイオントラックの蓄積が、照射表面の面粗度の上昇に寄与していることがわかった。
High-energy particle irradiation effects of CeO is investigated using electron microscopy. It is found that ion track is formed only when the electronic energy transfer exceeds 16 keV/nm.
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 266 |
号 |
: | 12-13 |
ページ数 |
: | p.2882 - 2886 |
発行年月 |
: | 2008/06 |
発表会議名 |
: | 14th International Conference on Radiation Effects in Insulators (REI-14) |
開催年月 |
: | 2007/08 |
開催都市 |
: | Caen |
開催国 |
: | France |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
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使用施設 |
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論文解説記事 |
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受委託・共同研究相手機関 |
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Access |
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- Accesses |
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パーセンタイル：86.96 分野：Instruments & Instrumentation |
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