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Study on effects of swift heavy ion irradiation in cerium dioxide using synchrotron radiation X-ray absorption spectroscopy

放射光X線吸収分光を利用したセリウム酸化物における高速重イオン照射効果の研究

大野 裕隆*; 岩瀬 彰宏*; 松村 大樹  ; 西畑 保雄; 水木 純一郎; 石川 法人  ; 馬場 祐治 ; 平尾 法恵; 園田 健*; 木下 幹康

Ono, Hirotaka*; Iwase, Akihiro*; Matsumura, Daiju; Nishihata, Yasuo; Mizuki, Junichiro; Ishikawa, Norito; Baba, Yuji; Hirao, Norie; Sonoda, Takeshi*; Kinoshita, Motoyasu

200MeV Xeイオンを照射したCeO$$_{2}$$における照射損傷を広域X線吸収微細構造(EXAFS)測定及びX線光電子分光(XPS)測定により評価した。その結果、照射後にCeの周りの酸素欠損が生じていること,Ceの価数が+4から+3に変化していることが明らかになった。

Radiation damage of CeO$$_{2}$$ irradiated with 200MeV Xe is characterized by EXAFS and XPS measurement. It is found that oxygen deficiencies are created after the irradiation, and charge state of Ce is changed from +4 to +3.

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