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Ce$$_x$$La$$_{1-x}$$Ru$$_2$$Si$$_2$$混晶系のCe希薄領域でのフェルミ面の変化,3

Change of Fermi surface properties in dilute Ce concentration of Ce$$_x$$La$$_{1-x}$$Ru$$_2$$Si$$_2$$ system, 3

松本 裕司; 木村 憲彰*; 小松原 武美*; 青木 晴善*; 栗田 伸之*; 寺嶋 太一*; 宇治 進也*

Matsumoto, Yuji; Kimura, Noriaki*; Komatsubara, Takemi*; Aoki, Haruyoshi*; Kurita, Nubuyuki*; Terashima, Taichi*; Uji, Shinya*

CeRu$$_2$$Si$$_2$$は、正方晶ThCr$$_2$$Si$$_2$$型結晶構造で、350mJ/mol K$$^2$$の電子比熱係数を持つ典型的な重い電子系である。この物質の[001]方向に磁場を印加すると、約7.7Tでクロスオーバー的なメタ磁性転移を起こす。dHvA効果測定によると、このメタ磁性とともに、f電子が遍歴から局在に変化するようなフェルミ面の変化を起こす。一方、(001)面内に磁場を印加した時は、メタ磁性も起こさず、f電子は遍歴のままである。この大きな磁気異方性は、CeRu$$_2$$Si$$_2$$のCeをLaに希釈しても、常に存在する。われわれは、dHvA効果測定により、(001)面内に磁場を印加したときに、f電子のないLaRu$$_2$$Si$$_2$$のLaをわずかにCeに置換したCe濃度において、f電子が遍歴している可能性が高いことを明らかにした。もし、Ce希薄濃度で既にf電子が遍歴しているとすれば、高温で局在していたf電子が、不純物近藤効果により降温で遍歴するはずである。今回は、新たにCe希薄濃度において温度によるフェルミ面の変化を、dHvA効果の測定により観測した。

We have performed the de Haas - van Alphen (dHvA) effect measurements in Ce$$_x$$La$$_{1-x}$$Ru$$_2$$Si$$_2$$ with magnetic fields in the (001) plane. All the oscillations corresponding to those in LaRu$$_2$$Si$$_2$$ can be observed in low Ce concentration samples and the evolution of the Fermi surface properties with x is found to depend strongly on the Fermi surface sheet. We will argue that the evolution can be attributed to anisotropic hybridization of the f electron with conduction electrons and resultant delocalization of the f electron.

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