YbRhSiの軟X線角度分解光電子分光

Soft X-ray angle-resolved photoemission spectra of YbRhSi

保井 晃; 藤森 伸一   ; 川崎 郁斗  ; 岡根 哲夫  ; 竹田 幸治   ; 斎藤 祐児  ; Lapertot, G.*; Knebel, G.*; 松田 達磨; 芳賀 芳範   ; 山上 浩志

Yasui, Akira; Fujimori, Shinichi; Kawasaki, Ikuto; Okane, Tetsuo; Takeda, Yukiharu; Saito, Yuji; Lapertot, G.*; Knebel, G.*; Matsuda, Tatsuma; Haga, Yoshinori; Yamagami, Hiroshi

重い電子系物質であるYbRhSiはわずかな制御パラメータにより量子臨界点(QCP)を跨ぐことができ、またQCP近傍のマクロ物性が従来のスピン密度波型のものとは異なるため、非常に注目を集めている。特に、そのQCPを境にフェルミ面が不連続に変化することがホール効果測定から示唆されている。フェルミ面の不連続変化のメカニズムを明らかにするためには電子構造を実験的に調べることが近道であるが、未だ十分に理解されていない。そこで、固体内部の価電子帯構造を調べるために、YbRhSiの軟X線角度分解光電子分光測定を行った。その結果、YbRhSiは価数揺動物質であり、Yb 4バンドは伝導バンドと混成していることがわかった。また、価電子帯構造はLuRhSiの局所密度近似計算による結果と似ていた。

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