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低圧気体を用いたミュオン原子形成初期過程に関する研究

Formation process of muonic atom for low pressure gaseous samples

二宮 和彦; 伊藤 孝  ; 髭本 亘 ; 長友 傑*; Strasser, P.*; 河村 成肇*; 下村 浩一郎*; 三宅 康博*; 三浦 太一; 喜多 真琴*; 篠原 厚*; 久保 謙哉*

Ninomiya, Kazuhiko; Ito, Takashi; Higemoto, Wataru; Nagatomo, Takashi*; Strasser, P.*; Kawamura, Naritoshi*; Shimomura, Koichiro*; Miyake, Yasuhiro*; Miura, Taichi; Kita, Makoto*; Shinohara, Atsushi*; Kubo, Kenya*

重元素系固体物理研究グループでは、1気圧以下の低密度の酸化窒素(NO, N$$_{2}$$O, NO$$_{2}$$)に注目して、分子効果の詳細を明らかにするための研究を進めている。このような低密度の試料を用いた場合、ミュオン捕獲後に脱励起していく過程で、オージェ過程で失われた電子空孔が再充填されないために、ミュオンの脱励起過程を簡単な系とみなすことができ、先行研究に対してより詳細な議論を進めることができると期待される。これまでNO及びN$$_{2}$$O分子を試料としたときに、ミュオン脱励起過程において電子の最充填の起こらない試料圧力条件について実験的に決定し報告を行った。本発表では新たにNO$$_{2}$$分子に関してミュオン特性エックス線構造の圧力依存を調べ、電子空孔の最充填速度の分子依存を調べたので、その結果について報告する。

We have been studying on the formation process of muonic atom by measuring muonic X-rays. It is known that muonic X-ray intensities are changed by the state of muon capturing atom. These intensities also influenced by the density of the sample itself. There are many studies to investigate muonic atom formation by measuring muonic X-ray intensities, however, the pressure dependence of muonic X-ray intensities have not been examined well. In this study, we investigate the pressure dependence of muonic X-ray intensities for NO, N$$_{2}$$O and NO$$_{2}$$ samples below 1 bar pressure conditions.

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