XUV-FEL spectroscopy; He two-photon ionization cross-sections

XUV自由電子レーザーを用いたHe原子の2光子吸収断面積の評価について解説

佐藤 尭洋*; 岩崎 純史*; 石橋 和樹*; 沖野 友哉*; 山内 薫*; 足立 純一*; 柳下 明*; 矢澤 洋紀*; 神成 文彦*; 青山 誠; 山川 考一; 緑川 克美*; 中野 秀俊*; 矢橋 牧名*; 永園 充*; 東谷 篤志*; 石川 哲也*

Sato, Takahiro*; Iwasaki, Atsushi*; Ishibashi, Kazuki*; Okino, Tomoya*; Yamanouchi, Kaoru*; Adachi, Junichi*; Yagishita, Akira*; Yazawa, Hiroki*; Kannari, Fumihiko*; Aoyama, Makoto; Yamakawa, Koichi; Midorikawa, Katsumi*; Nakano, Hidetoshi*; Yabashi, Makina*; Nagasono, Mitsuru*; Higashiya, Atsushi*; Ishikawa, Tetsuya*

Heガスに、XUV領域のイオン化断面積が既知である水素分子のガスを混合することによって、Heの2光子イオン化断面積の波長依存性を実験的に検証した結果について解説する。

The resonant and non-resonant two-photon single ionization processes of He were investigated using intense free electron laser light in the extreme ultraviolet (XUV) region (53.4-61.4 nm) covering the 1s-2p and 1s-3p resonant transitions of He. On the basis of the dependences of the yield of He on the XUV light-field intensity at 53.4, 58.4, 56.0 and 61.4 nm, the absolute values of the two-photon ionization cross sections of He at the four different wavelengths and their dependence on the light-field intensity were determined for the first time.