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Ge(100)-2$$times$$1表面の超音速酸素分子線による室温酸化促進

Enhancement of oxidation of Ge(100)-2$$times$$1 surface at room temperature induced by supersonic O$$_2$$ beam

吉越 章隆 ; 岡田 隆太; 寺岡 有殿; 山田 洋一*; 佐々木 正洋*; 神農 宗徹*

Yoshigoe, Akitaka; Okada, Ryuta; Teraoka, Yuden; Yamada, Yoichi*; Sasaki, Masahiro*; Jinno, Muneaki*

Si系LSIの電界効果トランジスタの新チャネル材料として、Siよりもキャリア移動度等で優れた物性を有するGeが注目されており、Ge酸化物とその生成機構の解明が重要となっている。本研究では、代表的なGe低指数面であるGe(100)-2$$times$$1表面の超音速酸素分子線(2.2eV)とバックフィリングによる室温酸化を放射光XPSによるその場分析で比較した。超音速酸素分子線による吸着曲線の変化、吸着酸素量の増加と関連する吸着サイトの違いを明らかにした。

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