軽元素オペランド条件XAFS測定による局所電子構造; Cs吸着構造への応用

Application to Cs adsorption structure using local electronic structure under operand XAFS measurement

本田 充紀   ; 下山 巖   ; 岡本 芳浩  ; 鈴木 伸一; 矢板 毅

Honda, Mitsunori; Shimoyama, Iwao; Okamoto, Yoshihiro; Suzuki, Shinichi; Yaita, Tsuyoshi

現在KEK-PF BL27Aにて軟X線放射光(2-5keV)を用いた軽元素オペランド条件蛍光XAFSシステムを開発している。XAFS測定で一般的に用いられる全電子収量法は真空下での測定に限定されるため、真空中に導入できない試料は測定が不可能であった。今回、大気下・溶液下でのXAFS測定が可能なシステムを開発することで、Cs減容化を目指した吸着材開発などを目的とし各種Cs含有試料についてのXAFS測定による局所電子構造解析を行った。今回、蛍光収量法によるオペランド条件下XAFS測定システムにより、Cs L-edge (5.01keV)についての大気および溶液環境下でのXAFSスペクトルの取得を行ったので報告する。各種Cs含有試料についてのCs L-edge NEXAFSスペクトルとして、(a)CsCl, (b)CsCO(標準物質)、(c)CsOH(溶液)および、(d)Cs in Vermiculiteについての測定結果を示した。(a)および、(b)のCs標準物質ではL3端の光エネルギーがA:5012eVおよびB:5013eVと異なることなり、塩化物Csと炭酸Cs吸収端が異なることが分かった。また(c)溶液下でもスペクトルを取得した。(d)粘土鉱物中のCsについてもスペクトルの取得に成功し、今回開発したシステムは実環境試料測定に有用であることが示せた。

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