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Total reflection high-energy positron diffraction; An Ideal diffraction technique for surface structure analysis

全反射高速陽電子回折; 表面構造解析における理想的な回折法

深谷 有喜; 前川 雅樹; 河裾 厚男; 望月 出海*; 和田 健*; 設楽 哲夫*; 一宮 彪彦*; 兵頭 俊夫*

Fukaya, Yuki; Maekawa, Masaki; Kawasuso, Atsuo; Mochizuki, Izumi*; Wada, Ken*; Shidara, Tetsuo*; Ichimiya, Ayahiko*; Hyodo, Toshio*

本研究では、全反射条件下におけるSi(111)-$$7times7$$再構成表面からの反射高速陽電子回折(RHEPD)パターンが、結晶内部のバルク原子からの寄与を含まないことを報告する。このことは、バルク原子を含む通常の試料の測定においても、最表面原子の情報のみを反映した回折パターンを観測可能であることを意味する。

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パーセンタイル:35.48

分野:Physics, Applied

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