深谷 有喜 
; 前川 雅樹; 河裾 厚男; 望月 出海*; 和田 健*; 設楽 哲夫*; 一宮 彪彦*; 兵頭 俊夫*
Fukaya, Yuki; Maekawa, Masaki; Kawasuso, Atsuo; Mochizuki, Izumi*; Wada, Ken*; Shidara, Tetsuo*; Ichimiya, Ayahiko*; Hyodo, Toshio*
本研究では、全反射条件下におけるSi(111)-
再構成表面からの反射高速陽電子回折(RHEPD)パターンが、結晶内部のバルク原子からの寄与を含まないことを報告する。このことは、バルク原子を含む通常の試料の測定においても、最表面原子の情報のみを反映した回折パターンを観測可能であることを意味する。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 7 |
号 |
: | 5 |
ページ数 |
: | p.056601_1 - 056601_4 |
発行年月 |
: | 2014/05 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
: |
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広報プレスリリース |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：62.05 分野：Physics, Applied |
Altmetrics |
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