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ラマン分光測定・放射光XAFS測定による模擬廃棄物ガラスの評価

Investigation of glass structure and cesium redox state in simulated waste glass by Raman spectroscopy and synchrotron XAFS measurement

永井 崇之; 岡本 芳浩; 狩野 茂; 西澤 代治; 関 克巳*; 本間 将啓*; 小林 博美*; 菖蒲 康夫

Nagai, Takayuki; Okamoto, Yoshihiro; Kano, Shigeru; Nishizawa, Daiji; Seki, Katsumi*; Homma, Masanobu*; Kobayashi, Hiromi*; Ayame, Yasuo

モックアップ溶融炉流下ガラスを対象に、ラマン分光測定からSi-O架橋構造を解析し、放射光XAFS測定からCe原子価割合を求め、ガラス中のNd$$_{2}$$O$$_{3}$$がSi-O架橋構造やCe原子価に影響することを確認した。

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