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TRHEPD rocking curve analyses of Pt/Ge(001) and TiO$$_{2}$$(110) surfaces

Pt/Ge(001)とTiO$$_{2}$$(110)表面の全反射高速陽電子回折のロッキング曲線解析

望月 出海*; 有賀 寛子*; 深谷 有喜   ; 和田 健*; 朝倉 清高*; 前川 雅樹; 河裾 厚男; 設楽 哲夫*; 兵頭 俊夫*

Mochizuki, Izumi*; Ariga, Hiroko*; Fukaya, Yuki; Wada, Ken*; Asakura, Kiyotaka*; Maekawa, Masaki; Kawasuso, Atsuo; Shidara, Tetsuo*; Hyodo, Toshio*

最近、高エネルギー加速器研究機構低速陽電子実験施設において、電子線形加速器ベースの高強度陽電子ビームを用いた新たな全反射高速陽電子回折(TRHEPD)装置を開発した。本研究では、この装置を用い、Ge(001)表面上に形成したPt原子吸着誘起ナノワイヤーの原子配置を調べた。動力学的回折理論に基づく回折強度解析から、理論的に提唱されていた構造モデルのうちの一つがナノワイヤーの基底構造であることを確かめた。我々は同様にして、ルチル型TiO$$_{2}$$(110)表面の原子配置も調べた。この表面の構造は、1100K以上の加熱により、($$1times1$$)から($$1times2$$)構造へその周期性が変化することが知られている。走査型トンネル顕微鏡、低速電子回折、表面X線回折、第一原理計算などを用い、様々な構造モデルが提唱されているが、現状では統一的な見解には至っていない。この問題を解決するために、我々はTRHEPDロッキング曲線を測定し、最表面の原子配置を決定した。

no abstracts in English

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