検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

Atomic structure of ion tracks in Ceria

セリアにおけるイオントラックの原子配列構造

高木 聖也*; 安田 和弘*; 山本 知一*; 松村 晶*; 石川 法人  

Takaki, Seiya*; Yasuda, Kazuhiro*; Yamamoto, Tomokazu*; Matsumura, Sho*; Ishikawa, Norito

透過型電子顕微鏡を利用した観察技術を駆使して、高エネルギー重イオン(200MeV Xe)を照射したCeO$$_{2}$$に形成された柱状欠陥集合体(イオントラック)の原子配列構造を詳細に調べた。高分解能Z(原子番号)コントラスト像(HAADF像)の観察結果によると、イオントラック内部のCe副格子の結晶構造は照射後も保持されていること、ただし、Ce副格子に起因する信号強度が減少している4-5nm径の領域が形成されていることが分かった。さらに、環状明視野(ABF)法による観察結果によると、O副格子の方がCe副格子よりも顕著に乱れていること、O副格子が乱れている4nm径領域が形成されていることが分かった。

We have investigated atomic structure of ion tracks in CeO$$_{2}$$ irradiated with 200 MeV Xe ions by transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM). TEM observations under inclined conditions showed continuous ion tracks with diffraction and structure factor contrast, and the decrease in the atomic density of the ion tracks was evaluated. High resolution STEM with high-angle annular dark-field (HAADF) technique showed that the crystal structure of the Ce cation column is retained at the core region of ion tracks, although the signal intensity of the Ce cation lattice is reduced over a region nm in size. Annular bright field (ABF) STEM observation has detected that the O anion column is preferentially distorted at the core region of ion tracks within a diameter of 4 nm.

Access

:

- Accesses

InCites™

:

パーセンタイル:95.98

分野:Instruments & Instrumentation

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.