新材料・新製品開発のための先端解析技術

Advanced analysis technology for new material and product development

佐々木 宏和*; 西久保 英郎*; 西田 真輔*; 山崎 悟志*; 中崎 竜介*; 磯松 岳己*; 湊 龍一郎*; 衣川 耕平*; 今村 明博*; 大友 晋哉*; 堀 祐臣*; 廣瀬 清慈*; 穴田 智史*; 山本 和生*; 平山 司*; 山崎 順*; 柴田 直哉*; 大場 洋次郎  ; 大沼 正人*

Sasaki, Hirokazu*; Nishikubo, Hideo*; Nishida, Shinsuke*; Yamazaki, Satoshi*; Nakasaki, Ryusuke*; Isomatsu, Takemi*; Minato, Ryuichiro*; Kinugawa, Kohei*; Imamura, Akihiro*; Otomo, Shinya*; Hori, Yujin*; Hirose, Kiyoshige*; Anada, Satoshi*; Yamamoto, Kazuo*; Hirayama, Tsukasa*; Yamasaki, Jun*; Shibata, Naoya*; Oba, Yojiro; Onuma, Masato*

電子顕微鏡や放射光等の先端解析技術は、試料の構造や化学状態について多くの有用な情報をもたらし、材料研究に欠かせないツールとなっている。本稿では、これらの先端解析技術の中から、電子線ホログラフィや放射光を用いたX線小角散乱法(SAXS)等の手法を中心に、材料研究への応用事例を紹介する。これらの手法を活用することにより、未知であった材料の本質を明らかにすることができ、新製品開発の指針を定める上で重要な知見を得ることができる。

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