小角X線散乱法によるコルソン合金中の析出物の時効処理過程のその場観察

Nano-scale precipitates in Corson alloy during aging process characterized by in-situ small-angle X-ray scattering

山崎 悟志*; 廣瀬 清慈*; 佐々木 宏和*; 大場 洋次郎  ; 宮澤 知孝*; 大沼 正人*

Yamazaki, Satoshi*; Hirose, Kiyoshige*; Sasaki, Hirokazu*; Oba, Yojiro; Miyazawa, Tomotaka*; Onuma, Masato*

電子機器の小型軽量化や高性能化に伴い、リードやコネクタに使用される銅合金には強度および導電性の両立が求められている。Cu-Ni-Si合金は、このような要求を満たす材料として注目されており、Ni-Si系化合物を熱処理によって微細に析出させることにより、高い強度を達成している。したがって、さらなる高性能な材料を開発するためには、Ni-Si系化合物の析出メカニズムを明らかにし、熱処理条件を最適化することが重要である。そこで本研究では、X線小角散乱法により、Cu-Ni-Si合金の熱処理中のその場測定を行った。その結果、Ni-Si系化合物の生成と粗大化を観察することに成功し、熱処理条件の最適化に関する知見を得た。

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