宇宙用機器の放射線影響試験設備の整備

Test facility for investigating cosmic ray effect on space applications

中川 創平 ; 松田 誠  ; 中村 暢彦; 石崎 暢洋  ; 沓掛 健一 ; 遊津 拓洋  ; 池亀 拓麻; 株本 裕史  ; 乙川 義憲  ; 松井 泰; 加藤 佑太

Nakagawa, Sohei; Matsuda, Makoto; Nakamura, Masahiko; Ishizaki, Nobuhiro; Kutsukake, Kenichi; Asozu, Takuhiro; Ikekame, Takuma; Kabumoto, Hiroshi; Otokawa, Yoshinori; Matsui, Yutaka; Kato, Yuta

過酷な放射線環境下で使用される宇宙機器には様々な放射線影響が生じ、その一つに、Single Event Upset(SEU)と呼ばれる半導体のメモリ情報が書き換えられる現象がある。人工衛星には、耐放射線性能を試験された半導体が使用されている。宇宙産業の発展に伴い、半導体の放射線影響評価施設の需要が高まっていることから、東海タンデム加速器で重イオンによるSEU試験を行う計画が進んでいる。SEU試験に必要な試験チャンバー、ビームアッテネータ等の整備計画の概要を発表する。

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