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Vicinage effect on the yield of convoy electrons emitted from thin carbon foil induced by the penetration of 3.5 MeV/atom C$$_{n}$$$$^{+}$$ ions

3.5MeV/atom C$$_{n}$$$$^{+}$$イオンの通過によって誘起される薄い炭素箔から放出されるコンボイ電子収量に対する近接効果

椎名 陽子*; 木下 亮*; 舟田 周平*; 松田 誠  ; 今井 誠*; 川面 澄*; 左高 正雄*; 笹 公和*; 金子 敏明*; 冨田 成夫*

Shiina, Yoko*; Kinoshita, Ryo*; Funada, Shuhei*; Matsuda, Makoto; Imai, Makoto*; Kawatsura, Kiyoshi*; Sataka, Masao*; Sasa, Kimikazu*; Kaneko, Toshiaki*; Tomita, Shigeo*

We investigated the target thickness dependence of convoy electron yields resulting from bombardments with 3.5 MeV/atom C$$_{n}$$$$^{+}$$ (n = 1 - 3) cluster ions. We observed that for bombardments with C$$_{2}$$$$^{+}$$ and C$$_{3}$$$$^{+}$$ ions, the convoy electron yield per atom, Y$$_{n}$$/n, reaches a maximum around 3-5 $$mu$$g/cm$$^{2}$$ and decreases with increasing target thickness from 3.1 to 10.5 $$mu$$g/cm$$^{2}$$, and ultimately reaches an asymptotic value. This asymptotic value of the convoy electron yield was nearly proportional to the size of the cluster n, that is, Y$$_{n}$$ $$propto$$ n$$^{2}$$, consistent with previous observations. We found that the escape length of the convoy electrons for C$$_{3}$$$$^{+}$$ and C$$_{2}$$$$^{+}$$ is much longer than that of C$$^{+}$$ bombardment. The present result suggests that the enhancement of the escape length could be the origin of this vicinage effect (i.e., Y$$_{n}$$ $$>$$ nY$$_{1}$$) on the convoy electron yield.

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

Physical Review A

巻

 :

110

号

 :

6

ページ数

 :

p.062826_1 - 062826_7

発行年月

 :

2024/12

発表会議名

 :

開催年月

 :

開催都市

 :

開催国

 :

キーワード

 :

Cluster effect; Secondary electron; Cluster Ions; Convoy electrons

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

https://doi.org/10.1103/PhysRevA.110.062826

研究データの公開先DOI

 :

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使用施設

 :

タンデム加速器  

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

 :

受委託・共同研究相手機関

 :

岡山大学; 立教大学; 筑波大学

Access

 :

- Accesses

InCites™

 :

パーセンタイル：0.00

分野：Optics

Altmetrics

 :

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