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前田 佳均; 鳴海 一雅; 境 誠司; 寺井 慶和*; 浜屋 宏平*; 佐道 泰造*; 宮尾 正信*
Thin Solid Films, 519(24), p.8461 - 8467, 2011/10
被引用回数:8 パーセンタイル:36.17(Materials Science, Multidisciplinary)We investigate the axial orientation of epitaxy of FeCoSi with a (A, C) site preference on Ge(111) by using ion channeling, and discuss dominant factors for epitaxy of FeMnSi and FeCoSi on Ge(111). We conclude that each dominant factor of epitaxy of FeMnSi and FeCoSi on Ge(111) comes from an atomic displacement due to different preference of site occupations.
前田 佳均; 上西 隆文*; 鳴海 一雅; 安藤 裕一郎*; 上田 公二*; 熊野 守*; 佐道 泰造*; 宮尾 正信*
Applied Physics Letters, 91(17), p.171910_1 - 171910_3, 2007/10
被引用回数:31 パーセンタイル:72.67(Physics, Applied)分子線エピタキシャル(MBE)成長させたFeSi(111)/Ge(111)ハイブリッド構造の軸配向性をラザフォード後方散乱法によって調べた。300Cより高い温度でのMBE成長においては、Fe原子とGe原子の相互拡散によって組成が変化し、FeSi中にFeGeがエピタキシャル成長することを確認した。また、低温(200C)でのMBE成長では、軸配向性に優れ(=2.2%)、十分に規則正しいDO3構造を持ったFeSiが得られた。化学量論的組成からずれたFeSiについては、400Cより高い温度でのポストアニールにより、組成の変化と軸配向性の劣化が起こった。本論文では、併せてFeSi(111)/Ge(111)ハイブリッド構造の熱的安定性と界面の質に対する化学量論組成の重要性を議論する。
安藤 裕一郎*; 上田 公二*; 熊野 守*; 佐道 泰造*; 鳴海 一雅; 前田 佳均; 宮尾 正信*
信学技報, 107(111), p.221 - 224, 2007/06
スピン偏極強磁性体シリサイドDO3型FeSiは、格子定数(0.565nm)がGeの格子定数(0.565nm)とほぼ一致しており、Ge基板上におけるFeSi層の高品位エピタキシャル成長が可能と期待される。本研究では、分子線エピタキシャル成長法を用いて、Fe/Si組成比及び成長温度がFeSi/Geの結晶性に与える効果を系統的に検討した。その結果、Fe/Si組成比を化学量論比(Fe:Si=3:1)とし、成長温度を低温化(300C)することで、結晶性が高く(ラザフォード後方散乱法による最小散乱収率: 23%)かつ界面が原子レベルで平坦なFeSi/Ge積層構造を実現した。さらに、この積層構造は、400Cまでの熱処理プロセスでは劣化しないことを確認した。
佐道 泰造*; 上田 公二*; 安藤 裕一郎*; 熊野 守*; 鳴海 一雅; 前田 佳均; 宮尾 正信*
ECS Transactions, 11(6), p.473 - 479, 2007/00
Ge基板上におけるFeSi層のエピタキシャル成長に関するわれわれの研究の最近の進展を報告する。低温(60200C)で成長条件を最適化することにより、Ge基板上に原子レベルで平坦な界面を持つFeSi単結晶層が得られた。この積層構造は400Cまでの熱処理プロセスでは劣化しないことを確認した。さらに、成長温度が400Cのときには、Ge基板上にFeSi, FeGe, FeSiからなる混合層がエピタキシャル成長することを報告し、最後に、FeSi/Ge/FeSi/Ge積層構造のエピタキシャル成長を議論する。今回の結果は、SiGe関連スピントロニクスへの展開のための強力な手段となるであろう。
熊野 守*; 安藤 裕一郎*; 上田 公二*; 佐道 泰造*; 鳴海 一雅; 前田 佳均; 宮尾 正信*
ECS Transactions, 11(6), p.481 - 485, 2007/00
Ge基板上でのFeSiの分子線エピタキシャル成長(MBE)に対するFe/Si組成比の効果を、広い範囲の成長温度(60300C)で調べた。X線回折による観測結果より、FeSi層は、Fe/Si組成比が化学量論比(Fe:Si=3:1)であっても非化学量論比(Fe:Si=4:1)であっても、成長温度が60200CでGe(111)基板上にエピタキシャル成長することが明らかになった。ラザフォード後方散乱法による観測結果からは、FeSi/Ge積層構造の界面における原子レベルのFeとGeのミキシングが、成長温度300Cで始まることがわかった。組成比が化学量論比(Fe:Si=3:1)のときは、非化学量論比(Fe:Si=4:1)のときに比べてFeSiの結晶性が著しく向上し、このときの値は広い成長温度範囲(60200C)で小さくなった。透過型電子顕微鏡による観測の結果、成長温度を低く(200C)して化学量論比をとるときに、原子レベルで平坦な界面を持つ高品位のDO3型FeSi/Ge積層構造を実現できることが明らかになった。
松倉 武偉*; 中島 孝仁*; 前田 佳均; 鳴海 一雅; 寺井 慶和*; 佐道 泰造*; 浜屋 宏平*; 宮尾 正信*
no journal, ,
本研究では、鉄ホイスラー合金薄膜/Ge(111)エピタキシャル界面での低温イオンチャネリングを行い、軸上での原子変位=動的変位(熱振動)+静的変位(格子不整合など外因変位)への温度の影響を検討した。200C以下で行う低温分子線エピタキシャル(MBE)成長によってホイスラー合金薄膜FeMnSi(111)(50nm膜厚)をGe(111)上に成長させた。軸配向性を評価する最小収量:,臨界角は、2MeV Heイオンを用い、後方散乱角165で測定したGe111軸チャネリングディップ曲線から求めた。これまでの研究から、FeMnSi/Ge界面での軸配向性は格子不整合によって支配されていることが示唆されている。測定温度が低下するにしたがってが減少し、が増加し、軸配向性が改善されることが明らかになった。FeMnSi/Ge界面の熱膨張による格子不整合の変化は0.27%@300K, 0.15%@110K, 0.10%@40Kと低温で大きく減少することから、これらの軸配向性の変化(改善)は熱膨張による格子不整合の緩和(減少)によるものであると考えられる。