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イオンビーム照射における出芽酵母の突然変異誘発メカニズム

Molecular analysis of heavy ion induced mutations in budding yeast ${it Saccharomyces cerevisiae}$

松尾 陽一郎*; 西嶋 茂宏*; 長谷 純宏; 坂本 綾子; 田中 淳; 清水 喜久雄*

Matsuo, Yoichiro*; Nishijima, Shigehiro*; Hase, Yoshihiro; Sakamoto, Ayako; Tanaka, Atsushi; Shimizu, Kikuo*

近年、放射線を用いた突然変異による育種技術として重粒子線が注目されているが、突然変異誘発のメカニズムは未だに不明な点が多い。本研究では、高等生物のモデル系として酵母細胞を用いて、重粒子線並びに$$gamma$$線による突然変異について、分子レベルでの解析を行った。イオンビームによる野生型の突然変異頻度は生存率が約50%となる100Gyで最も高く、自然変異率と比較して168.5倍であった。シーケンス解析の結果、イオンビームでは、局所的に変異が起こる部位(ホットスポット)が見られたが、$$gamma$$線では確認できなかった。イオンビームが$$gamma$$線とは異なる遺伝子損傷を生み出すものと考えられる。変異パターンを解析した結果、イオンビーム並びに$$gamma$$線では塩基置換の頻度が高く、なかでもトランスバージョンの割合が高かった。

no abstracts in English

使用言語

 :

Japanese

掲載資料名

 :

巻

 :

号

 :

ページ数

 :

発行年月

 :

発表会議名

 :

第3回イオンビーム育種研究会大会

開催年月

 :

2006/04

開催都市

 :

千葉

開催国

 :

日本

キーワード

 :

no keyword

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

研究データの公開先DOI

 :

使用施設

 :

TIARA(イオン照射研究施設)

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

 :

受委託・共同研究相手機関

 :

大阪大学ラジオアイソトープ総合センター

Access

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