重イオンビームによる突然変異生成メカニズムの解析

Analysis of molecular mechanism of mutations induced by heavy ion beams

松尾 陽一郎*; 西嶋 茂宏*; 長谷 純宏; 坂本 綾子; 田中 淳; 清水 喜久雄*

Matsuo, Yoichiro*; Nishijima, Shigehiro*; Hase, Yoshihiro; Sakamoto, Ayako; Tanaka, Atsushi; Shimizu, Kikuo*

イオンビームによる突然変異生成のメカニズムについて、高等生物のモデル系として出芽酵母を用い、分子レベルで解析を行った。イオンビーム及び線照射で得られた 変異体の変異位置を解析し、比較を行った。照射試料として、のS288c( )と、変異株g160/2b ()を用い、照射線源として日本原子力研究開発機構・高崎研究所・イオン照射研究施設(TIARA)のAVFサイクロトロンを用いた。イオンは、Cカーボンで、エネルギーは220MeV、LETは107keV/mである。生じた突然変異体をシークエンスした結果、イオンビームはトランスバージョンの頻度が高く、なかでもGCからTAへの変異の割合が高かった。今回の結果から、イオンビーム・線ともに酸化損傷がその置換変異の主な部分を占め、特に8-oxo-dGTPなどによる損傷が優勢であったと考えられる。一方で、イオンビームではリンカーDNAの領域などに局所的な変異が起こりやすいことが推測された。また、野生型へのイオンビーム照射の場合、突然変異が誘発される部位としてACAやACT配列中のC塩基の変異が大きな割合を占めていた。このことから、遺伝子の構造や配列と変異が起こる部位との間に何らかの関係があることが示唆された。

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