Nb)O
のX線非弾性散乱実験Nb)O大和田 謙二; 廣田 和馬*; 福田 竜生 
; 筒井 智嗣*; Baron, A. Q. R.*; 水木 純一郎; 寺内 暉*; 大和 英弘*; 安田 直彦*
Owada, Kenji; Hirota, Kazuma*; Fukuda, Tatsuo; Tsutsui, Satoshi*; Baron, A. Q. R.*; Mizuki, Junichiro; Terauchi, Hikaru*; Owa, Hidehiro*; Yasuda, Naohiko*
今回われわれは、BサイトのInとNbが秩序化したOrdered-Pb(InNb)O(O-PIN、反強誘電体TN=465K)において、散漫散乱とフォノンの温度変化(10-800K)を測定した。散漫散乱は800Kで
点(3, 0, 0)まわりに存在していた。散漫散乱強度は温度低下とともに[
110]上に凝縮しつつ強くなり、その上をM点方向に移動し、最終的には(3, 0, 0)(1/4, 1/4, 0)において超格子反射を形成した。X線非弾性散乱の結果から散漫散乱の主体はT
に向けて臨界的に強くなるセントラルピークであった。また、点に近い散漫散乱強度も順調に成長し、その温度変化は誘電率の振る舞いをよく説明した。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | |
号 |
: | |
ページ数 |
: | |
発行年月 |
: | |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 2010/03 |
開催都市 |
: | 岡山 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
: |
|
|---|---|---|
使用施設 |
: | |
論文解説記事 |
: | |
受委託・共同研究相手機関 |
: | 理化学研究所; 高輝度光科学研究センター; 関西学院大学; 岐阜大学; 大阪大学 |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
被引用回数：