炭素イオンビーム照射による出芽酵母の突然変異誘発機構

Carbon ion-beam induced mutagenesis in budding yeast

清水 喜久雄*; 松尾 陽一郎*; 泉 佳伸*; 野澤 樹; 長谷 純宏; 坂本 綾子; 田中 淳

Shimizu, Kikuo*; Matsuo, Yoichiro*; Izumi, Yoshinobu*; Nozawa, Shigeki; Hase, Yoshihiro; Sakamoto, Ayako; Tanaka, Atsushi

高LETのイオンビームは育種や医療分野において大きな成果を上げてきている。しかし、高LETイオンビームによる突然変異誘発メカニズムにはまだ不明な点が多い。今回、われわれは出芽酵母を材料に用い、遺伝子を突然変異マーカーとしてイオンビームによる変異スペクトルを解析するともに、マイクロアレイ法を用いてイオンビーム照射によって発現が誘導される遺伝子を解析した。LETと変異スペクトルとの関係を調べるため、高崎量子応用研究所TIARAの107keV/mのカーボンイオン、及び放射線総合研究所HIMACの13keV/mのカーボンイオンを酵母細胞に照射して遺伝子座の変化を調べたところ、107keV/mのカーボンを用いたときのみ遺伝子上に幾つかの特異的なホットスポットが生じた。このことから、LETが異なると生じるDNA損傷及びそれに対する修復機構が異なっている可能性が示唆された。一方、マイクロアレイ解析の結果、カーボンイオン照射後の細胞では相同組み換えや非相同末端結合,ヌクレオチド除去種修復などの修復遺伝子とともに、酸化ストレス応答遺伝子等の発現が誘導されることが明らかになった。

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