Itinerant U 5
nature in antiferromagnet U(Ru
Rh
)
Si
; Soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy
反強磁性体U(Ru
Rh
)
Si
におけるU 5
電子の遍歴的振る舞い; 軟X線角度分解光電子分光法
川崎 郁斗
; 藤森 伸一
; 岡根 哲夫
; 保井 晃; 斎藤 祐児
; 山上 浩志*; 芳賀 芳範
; 山本 悦嗣
; 大貫 惇睦*
Kawasaki, Ikuto; Fujimori, Shinichi; Okane, Tetsuo; Yasui, Akira; Saito, Yuji; Yamagami, Hiroshi*; Haga, Yoshinori; Yamamoto, Etsuji; Onuki, Yoshichika*
軟X線角度分解光電子分光の手法を用いて、反強磁性を示すU(Ru
Rh
)
Si
の電子構造の研究を行った。実験の結果U 5
電子は遍歴的な性質を持っており、エネルギーバンド及びフェルミ面の形成に参加していることが明らかになった。この結果は反強磁性が遍歴U 5
電子によるスピン密度波であることを示している。観測されたバンド構造とフェルミ面はURu
Si
と同様であり、反強磁性の秩序波数ベクトル
=(1,0,0)がURu
Si
の隠れた秩序相の秩序波数ベクトルである可能性を示唆している。
We have carried out soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy experiments on U(Ru
Rh
)
Si
, which shows antiferromagnetic (AFM) ordering at low temperatures. We have revealed that U 5
electrons contribute to the formation of the energy band as well as Fermi surface. This suggests that the AFM ordering is caused by a spin density wave of itinerant U 5
electrons. The observed band dispersion and Fermi surface are nearly identical to those of URu
Si
. Therefore, the AFM ordering vector
= (1,0,0) can be a possible ordering vector of the hidden order phase in URu
Si
.