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Development of visible light measurement techniques for detection of single-ion hit

シングルイオンヒット検出のための可視光計測技術の開発

横山 彰人; 加田 渉; 佐藤 隆博; 江夏 昌志; 山本 春也; 神谷 富裕; 横田 渉

Yokoyama, Akihito; Kada, Wataru; Sato, Takahiro; Koka, Masashi; Yamamoto, Shunya; Kamiya, Tomihiro; Yokota, Wataru

研究の初年度である2011年度では以下の3つについて実施した。(1)単結晶Al$$_{2}$$O$$_{3}$$にEuを注入したAl$$_{2}$$O$$_{3}$$:Euについて、Eu量及び熱処理条件が発光量に及ぼす影響を調べた。試料に対するフォトルミネッセンス(Photoluminescence: PL)測定の結果、10$$times$$10$$times$$0.3mmの試料表面から30nm$$sim$$70nmに7.5ions/nm$$^{3}$$を注入して、600$$^{circ}$$Cで1時間熱処理したAl$$_{2}$$O$$_{3}$$:Euが最もPL強度が大きく、これを(2)で使用した。(2)発光検出装置の感度試験では、タンデム加速器で加速した15MeV-O$$^{4+}$$をAl$$_{2}$$O$$_{3}$$:Eu及びZnS:Agシンチレータにそれぞれ照射した結果、200cps及び1cps以上の照射により発光画像が得られた。このことから、試料のパラメータを改善して発光量を増やすことと開口数のより大きな対物レンズへの変更によって、装置の感度を200倍以上高めることが必要であることがわかった。(3)調製したAl$$_{2}$$O$$_{3}$$:Euに3MeV-H$$^{+}$$ビームを照射して得られたイオンビーム誘起発光スペクトルでは690nmにEu固有のピークが見られた。試料が厚いほど、入射ビームが散乱して広がった領域から生じる発光を検出することになるため、照射位置分解能が低下するが、このピークを含む600nm$$sim$$700nmのバンドパスフィルターを使用してEu層のみの発光を検出することによりこれを向上できることがわかった。

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