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Fast single-ion hit system for heavy-ion microbeam at TIARA cyclotron, 6

TIARAサイクロトロンにおける重イオンマイクロビーム用高速シングルイオンヒット技術の開発,6

横田 渉; 佐藤 隆博; 奥村 進; 倉島 俊; 宮脇 信正; 柏木 啓次; 吉田 健一 ; 江夏 昌志; 横山 彰人; 加田 渉*; 神谷 富裕

Yokota, Wataru; Sato, Takahiro; Okumura, Susumu; Kurashima, Satoshi; Miyawaki, Nobumasa; Kashiwagi, Hirotsugu; Yoshida, Kenichi; Koka, Masashi; Yokoyama, Akihito; Kada, Wataru*; Kamiya, Tomihiro

原子力機構のTIARAサイクロトロンのHXコースに設置された重イオンマイクロビーム用高速シングルイオンヒットシステムにおいて、マイクロビーム及びシングルイオンヒットの質や利便性を向上させる技術開発を継続して行った。シングルイオンヒット位置のリアルタイム検出技術の開発では、増幅率8$$times$$10$$^{5}$$の超高感度EMCCD(Electron Multiplying CCD)カメラと光学顕微鏡とを組合せて感度と集光率の双方を高めた検出システムを構築して、シングルイオンによるCaF$$_{2}$$のシンチレーションの位置検出をリアルタイムで可能にし、目的を達成した。また、SEM(Secondary Electron Microprobe)を用いた従来方式では2次電子放出率が低いために計測できない320MeV-Cビームの大きさを、本システムを用いた調整により10$$mu$$m$$times$$10$$mu$$mに集束することに初めて成功した。

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