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放射光光電子顕微鏡を用いたCs吸着バーミキュライトのピンポイント分析

Pinpoint Analysis of Cs-contained Vermiculite using Synchrotron Radiation PEEM

吉越 章隆; 塩飽 秀啓; 小林 徹; 下山 巖; 松村 大樹; 辻 卓也; 西畑 保雄; 矢板 毅; 小暮 敏博*; 甕 聡子*; 大河内 拓雄*; 保井 晃*

Yoshigoe, Akitaka; Shiwaku, Hideaki; Kobayashi, Toru; Shimoyama, Iwao; Matsumura, Daiju; Tsuji, Takuya; Nishihata, Yasuo; Yaita, Tsuyoshi; Kogure, Toshihiro*; Motai, Satoko*; Okochi, Takuo*; Yasui, Akira*

人工的にCsを飽和吸着したバーミキュライトの放射光高電子顕微鏡(SR-PEEM)分析を行った。数$$mu$$mの微粒子全体にCsが分布している様子を観察するとともに、試料位置のピンポイントX線吸収スペクトル測定に成功した。さらに、Feの存在も確認した。

Pinpoint chemical analysis for Cs-adsorbed vermiculite was performed by using synchrotron radiation photoelectron emission microscopy (SR-PEEM). It was found that Cs is distributed through the micro-size clay particles and we also succeeded to measure pinpoint X-ray absorption spectra for constituent element simultaneously. Furthermore, we precisely confirmed the existence of Fe in the sample.

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