スピンコントラスト変調中性子反射率法を用いた非対称界面の構造解析

Structure analysis of asymmetric interface using spin-contrast-variation neutron reflectometry

熊田 高之   ; 三浦 大輔*; 阿久津 和宏*; 奥 隆之   ; 鳥飼 直也*; 新関 智丈*

Kumada, Takayuki; Miura, Daisuke*; Akutsu, Kazuhiro*; Oku, Takayuki; Torikai, Naoya*; Niizeki, Tomotake*

スピンコントラスト変調中性子反射率法を用いて樹脂と多孔質メチル化シリカ2層膜の構造解析を行った。ところが、一般的なガウス界面を用いる限り共通の構造パラメーターで複数の反射率曲線を再現することができなかった。そこで樹脂がメチル化シリカの空孔に侵入する割合を変えたところきれいに再現することができた。

We demonstrated the advantage of spin-contrast-variation neutron reflectometry on the structure analysis of buried interface between resin and porous silica layers. The interface structure was not reproduced by the normal Gaussian model, but by the asymmetric interface model where crosslinked polymer chains neither permeate the pore nor follow the surface roughness of the silica layer.