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今井 誠*; 左高 正雄; 北澤 真一; 小牧 研一郎*; 川面 澄*; 柴田 裕実*; 俵 博之*; 東 俊行*; 金井 保之*; 山崎 泰規*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 193(1-4), p.674 - 679, 2002/06
被引用回数：5 パーセンタイル：34.36(Instruments & Instrumentation)タンデム加速器で得られた高速イオウイオンを炭素薄膜に衝突させ、薄膜通過後に放出される電子のエネルギを測定した。Sイオンは核外に数個の電子しか持たない12+と13+イオンを入射し、標的の薄膜は1~10
g/cm
の各種の厚さのものを用いた。2s-2p遷移に基づくコスタークロニッヒ電子に着目すると、電子の放出量は薄膜の厚さにより系統的に変化した。これは入射イオンが固体中で電子を放出するが、その電子はイオンと同速度でイオンとともに運動していながら多重散乱して角運動量を変化していることを表している。
, Si and Ni ions in collisions with a He target左高 正雄; 今井 誠; 山崎 泰規*; 小牧 研一郎*; 川面 澄*; 金井 保之*; 俵 博之*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 79, p.81 - 84, 1993/00
被引用回数：6 パーセンタイル：57.47(Instruments & Instrumentation)イオン原子衝突においてバイナリーピーク電子は放射線と物質との相互作用での高エネルギー2次電子であり、トラック構造、プラズマ物質等で重要である。この電子放出過程において多価イオンを入射粒子とする場合に核外電子による原子核電荷の遮蔽効果に異常性が見られた。すなわち高電離イオンによるバイナリー電子放出よりも低電離イオンによる場合の方が強度が強いことがわかった。この研究成果についてレビューする。
竹田 辰興; 永嶺 謙忠*; 山崎 泰規*; 門野 良典*; 石田 勝彦*; 上村 正康*; 山崎 良成*; 水本 元治
日本原子力学会誌, 34(12), p.1098 - 1107, 1992/12
被引用回数：0 パーセンタイル：0.01(Nuclear Science & Technology)ミュオンを用いた種々の科学研究が盛んになってきた。これらは、多くの場合、正負のミュオンが、それぞれ、「軽い陽子」及び「重い電子」として振る舞う、特質を十分に生かしたものである。その対象は、SR法による物性・材料研究、ミュオン触媒核融合研究、ミュオン原子X線による非破壊元素分析、基礎物理学研究等に及ぶ。本解説では、これらについて、最近の興味ある話題について概観し、また、ミュオン科学の進展に大きな寄与が期待される低速ミュオン生成の研究、及び大強度加速器の開発についても触れる。
2p9l states of S
ions excited through carbon foils今井 誠; 左高 正雄; 楢本 洋; 山崎 泰規*; 小牧 研一郎*; 川面 澄*; 金井 保之*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 67, p.142 - 145, 1992/00
被引用回数：12 パーセンタイル：73.26(Instruments & Instrumentation)炭素薄膜通過時に硫黄イオンは励起、脱励起を受け、平衡状態となった励起準位分布を示す。本研究では64MeVおよび128MeVの硫黄イオンを種々の膜厚の炭素薄膜に入射し、膜中でつくられたIS2p9l状態のl分布性を明らかにした。このl分布が平衡に達するまでの時間は~10
秒程度と見積もられる。
and HeP.Hvelplund*; 俵 博之*; 小牧 研一郎*; 山崎 泰規*; 黒木 健郎*; 渡辺 比呂志*; 川面 澄*; 左高 正雄; 今井 誠; 金井 保之*; et al.
Journal of the Physical Society of Japan, 60(11), p.3675 - 3678, 1991/11
被引用回数：9 パーセンタイル：62.48(Physics, Multidisciplinary)タンデム加速器から得られた56MeVのSiイオンとヘリウム原子の衝突で放出されたバイナリー電子をイオンビームに対し0度の方向で測定し、その強度の入射イオン電荷(6+~14+)に対する依存性を調べた。その結果はフッ素イオンを用いて研究したRichardらの結果と定性的に一致し、入射イオン電荷が小さくなるとバイナリー強度が大きくなった。またイオンの外側のスクリーニングを考慮したTaulbiergの理論値と本測定値とは良い一致を見た。
I.Kadar*; H.Altevogt*; R.Koehrbrueck*; V.Montemayor*; A.Mattis*; G.Schiwietz*; B.Skogvall*; K.Sommer*; N.Stolterfoht*; 川面 澄*; et al.
Physical Review A, 44(5), p.2900 - 2912, 1991/09
被引用回数：5 パーセンタイル：39.01(Optics)ナトリウム様のアルゴンイオンとイオウイオンの-電子励起状態が0゜電子分光法を用いて調べられた。オージェ電子スペクトルはモノポール、ダイポール、ダイポール励起により2S,2P電子が励起されたことに起因していると同定された。衝突強度を平面波ボルン近似で求め、スペクトルと比較した結果、モノポール励起によるピークは計算値よりかなり大きいことがわかり、配置間相互作用に大きく影響されることを明らかにした。
川面 澄*; 左高 正雄; 楢本 洋; 今井 誠; 小牧 研一郎*; 山崎 泰規*; 黒木 健郎*; 金井 保之*; 神原 正*; 粟屋 容子*; et al.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 53(4), p.421 - 425, 1991/04
被引用回数：16 パーセンタイル：82.98(Instruments & Instrumentation)高エネルギー(64MeV、90MeV)多価イオン(S
,S,Sc
)と原子・固体との衝突において0度方向(ビーム方向)に放出される2次電子のエネルギースペクトルを測定した。そのスペクトルの中で入射イオンから放出される電子に着目して研究を行なった。S、Scイオンからのスペクトル線は2p空孔に起因する遷移による多くの線から構成され、Sイオンからのものは1s2pnlからのコスタークロニッヒ遷移によるスペクトル線で構成されているものと同定された。さらに固体ターゲットと気体ターゲットの違いによるイオンの励起過程の変化、3電子が関与するオージェ過程について議論された。
川面 澄*; 左高 正雄; 山崎 泰規*; 小牧 研一郎*; 金井 保之*; 楢本 洋; 黒木 健郎*; 神原 正*; 粟屋 容子*; 中井 洋太; et al.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 48, p.103 - 106, 1990/00
被引用回数：17 パーセンタイル：82.12(Instruments & Instrumentation)原研タンデム加速器を用いて多価イオンの0゜電子分光を行った。64MeVSイオンとHeガス及び炭素薄膜との衝突においてイオンからイオンビーム方向に放出される電子のスペクトルを測定し、Heと炭素薄膜との標的に違いによる変化を研究した。電子スペクトルは多くのピークから成っているが、それらは1S2pnl-1S2sel(n=9~19)のCoster-Kronig遷移によるものと同定された。特にn=9の自動電離に関して、角運動量(l)分布が測定され、炭素薄膜との衝突においてイオンの高いl状態が作られることがわかった。
粟屋 容子*; 日野 健一*; 月出 章*; 金井 保之*; 川面 澄; 黒木 健郎*; H.Vogt*; 山崎 泰規*; 渡部 力*
Lecture Notes in Physics, Vol.294, p.185 - 196, 1988/00
高エネルギー重イオンを用いた放射性電子捕獲(REC)の研究の概略を述べると共に、K-及びL-RECX線スペクトルの角度の依存性に関する理論的研究と実験的研究の結果を述べる。
小林 知洋*; 池田 時浩*; 荻原 清*; 山崎 泰規*; 箱田 照幸; 八巻 徹也
no journal, ,
放射線還元法は、水中の貴金属イオンを還元析出させて微粒子を作製できる方法であり、これまで放射線として水全体を照射できる
線や高エネルギーの電子線が用いられてきた。一方、理化学研究所では、先細のガラスキャピラリーにイオンビームを通過させてマイクロビーム化する技術の開発を進め、さらにキャピラリー先端に薄い隔壁を形成することにより、液相中でのマイクロビームイオン照射技術の開発に成功している。本研究では、この技術の放射線還元法としての有効性を調べることを目的として、白金イオンを含む水中にキャピラリーを挿入し、その先端から3MeVのプロトンビームを照射した際の白金微粒子の生成と水中に保持した材料表面への担持の可能性を調べた。その結果、プロトンビームでも水中に金属状白金微粒子が生成すること、またキャピラリー先端と対向して設置したグラッシーカーボン板上の照射領域に数nm以下の直径を持つ微粒子が付着することがわかった。このことから、キャピラリー型マイクロビーム照射技術は、基板上の特定領域への貴金属微粒子の析出方法となる可能性があることがわかった。
小林 知洋*; 八巻 徹也; 箱田 照幸; 荻原 清*; 山崎 泰規*
no journal, ,
イオンビームを先細のガラスキャピラリーに通過させることにより、マイクロビーム化することが可能である。本研究では、この技術で得られたプロトン(H
)マイクロビームを利用して、液相中での放射線還元法による白金(Pt)ナノ粒子の生成を試みた。テーパー付きガラスキャピラリー(出口径: 約200m)に3MeV Hを通し、厚さ7mのポリイミドフィルム隔壁を介して1mmol/L塩化白金(IV)とエタノールの混合水溶液に照射した。その結果、隔壁付近の溶液中において固体生成物の浮遊が見られ、Ptナノ粒子の生成が確認できた。透過型電子顕微鏡による観察では、ナノ粒子の直径は5-10nmであった。また、キャピラリー先端から100m離れた溶液中にグラッシーカーボン基板を設置して同ビームを照射すると、Ptナノ粒子が基板上に付着している様子が見られた。
