JT-60U黒鉛タイルの水素同位体蓄積挙動

Retention behavior of hydrogen isotopes on JT-60U carbon tiles

柴原 孝宏*; 廣畑 優子*; 大矢 恭久*; 小柳津 誠*; 大西 祥広*; 吉河 朗*; 奥野 健二*; 杉山 一慶*; 田辺 哲朗*; 新井 貴; 正木 圭; 柳生 純一; 石本 祐樹; 宮 直之

Shibahara, Takahiro*; Hirohata, Yuko*; Oya, Yasuhisa*; Oyaizu, Makoto*; Onishi, Yoshihiro*; Yoshikawa, Akira*; Okuno, Kenji*; Sugiyama, Kazuyoshi*; Tanabe, Tetsuo*; Arai, Takashi; Masaki, Kei; Yagyu, Junichi; Ishimoto, Yuki; Miya, Naoyuki

JT-60Uのダイバータタイル及び第一壁の水素同位体(軽水素,重水素)蓄積量とその深さ分布を、昇温脱離法(TDS),二次イオン質量分析法(SIMS),X線光電子分光法(XPS)で分析し、タイル表面の損耗・再堆積を走査型電子顕微鏡(SEM)で観察した。第一壁は損耗・再堆積にかかわらず水素同位体蓄積量はほぼ一定であり、タイル表面付近に打ち込まれた水素の寄与が大きいことが示唆された。ダイバータ部分の再堆積領域において、プラズマに曝され放電時にタイル表面温度が上昇した領域は、水素同位体は再堆積層中に(H+D)/C=0.02と非常に低い濃度で均一に蓄積されていた。これに対し、プラズマの影になり放電時の温度上昇が小さかった領域では、水素同位体は再堆積層中に(H+D)/C=0.13と高い濃度で蓄積されていた。一方、損耗領域での水素同位体蓄積量は非常に少なかった。また、タイル温度が高かった領域では軽水素放電による重水素の置換が大きく進行したことが明らかとなった。以上から、水素同位体蓄積量は放電時のタイル表面温度に大きく依存し、タイル温度を上昇させることで水素同位体蓄積量が低減できることが示唆された。

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