Fast single-ion hit system for heavy-ion microbeam at TIARA cyclotron, 4

TIARAサイクロトロンにおける重イオンマイクロビーム用高速シングルイオンヒットシステム,4

横田 渉; 佐藤 隆博; 奥村 進; 倉島 俊; 宮脇 信正; 柏木 啓次; 吉田 健一; 江夏 昌志; 高野 勝昌*; 横山 彰人; 加田 渉; 神谷 富裕

Yokota, Wataru; Sato, Takahiro; Okumura, Susumu; Kurashima, Satoshi; Miyawaki, Nobumasa; Kashiwagi, Hirotsugu; Yoshida, Kenichi; Koka, Masashi; Takano, Katsuyoshi*; Yokoyama, Akihito; Kada, Wataru; Kamiya, Tomihiro

日本原子力研究開発機構のイオンビーム照射施設(TIARA)のサイクロトロンにおいて、マイクロビーム及びシングルイオンヒットの品質を向上させるために、高速シングルイオンヒットシステムの開発を継続して進めた。主要な開発項目は、シングルイオンヒット照射で狙った箇所にイオンが当らないミスヒットの低減と、シングルイオンヒットのリアルタイム検出技術の開発である。また、新マイクロビームの開発を実施し、400MeV-Feを直径4m程度に集束して利用実験に提供した。

The development of the fast single-ion hit system was continued from last year in order to improve the quality of microbeam and single-ion hit at the TIARA cyclotron of the Japan Atomic Energy Agency. The major subjects were reduction of miss hit, no hit on the targeted point by any ions in the single-ion-hit irradiation, and development of a real-time detection system of single-ion hit. A new microbeam of 400 MeV-Fe with a spot diameter of about 4 m was also developed and supplied to an experiment.