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角度分解光電子分光によるThRu$$_{2}$$Si$$_{2}$$の電子状態

Electronic structure of ThRu$$_{2}$$Si$$_{2}$$ studied by ARPES

藤森 伸一   ; 小畠 雅明  ; 竹田 幸治   ; 岡根 哲夫  ; 斎藤 祐児  ; 藤森 淳; 山上 浩志; 松本 裕司*; 山本 悦嗣  ; 立岩 尚之   ; 芳賀 芳範   

Fujimori, Shinichi; Kobata, Masaaki; Takeda, Yukiharu; Okane, Tetsuo; Saito, Yuji; Fujimori, Atsushi; Yamagami, Hiroshi; Matsumoto, Yuji*; Yamamoto, Etsuji; Tateiwa, Naoyuki; Haga, Yoshinori

角度分解光電子分光によりThRu$$_{2}$$Si$$_{2}$$のバンド構造およびフェルミ面の導出を行った結果について報告する。バンド計算の結果との比較を行い、その電子状態について議論する。さらにURu$$_{2}$$Si$$_{2}$$に対する実験結果との比較を行って、URu$$_{2}$$Si$$_{2}$$のバンド構造とフェルミ面におけるU 5f電子状態の寄与についても議論する。

no abstracts in English

使用言語

 :

Japanese

掲載資料名

 :

巻

 :

号

 :

ページ数

 :

発行年月

 :

発表会議名

 :

日本物理学会第70回年次大会

開催年月

 :

2015/03

開催都市

 :

東京

開催国

 :

日本

キーワード

 :

no keyword

特許データ

 :

PDF

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論文URL

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研究データの公開先DOI

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使用施設

 :

SPring-8(大型放射光施設)

広報プレスリリース

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